921X光纜在接續(xù)過程中產(chǎn)生的大衰耗點
在921X光纜接續(xù)過程中，產(chǎn)生大衰耗點是經(jīng)常發(fā)生的，我們一般用OTDR（光時域反射儀）進行監(jiān)測，即每熔接一根光纖，都用OTDR測試一下熔接點的衰耗值，具體測試時，采用雙向監(jiān)測法，由于光纖制造過程中存在的差異性，兩根光纖不可能*一致，總是存在模場直徑不一致現(xiàn)象，從而導致了用OTDR所測的損耗值并不是接續(xù)點的實際損耗值，其數(shù)值有正有負，一般用雙向測試值的算術(shù)平均值作為實際衰耗值。在接續(xù)時，一般用實時監(jiān)測法，基本能保證熔接損耗達到控制目標，但經(jīng)常產(chǎn)生大損耗點的原因是在熔接完畢后進行光纖收容時，部分光纖受壓或彎曲半徑過小，即形成一個大衰耗點。因為1550nm波長的光纖對微彎損耗非常敏感，光纖一旦受壓，即產(chǎn)生一個微彎點，或盤纖時，彎曲半徑過小，光纖信號在此處也產(chǎn)生較大的衰耗，表現(xiàn)在光纖后向散射曲線上，就形成了一個較大的衰耗臺階；另外，一個比較容易忽視的原因是921X光纜接頭盒組裝完成后，固定接頭盒和固定921X光纜時，由于921X光纜在接頭盒內(nèi)固定的不是很牢固，造成921X光纜擰轉(zhuǎn)，使光纖束管變形，由于光纖受壓，造成光纖衰耗值急劇增加，形成衰耗臺階。